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SGKS大尺寸三维测量解决方案PLock+说明

SGKS大尺寸三维测量解决方案PLock+说明

方案简介

PLock+,基于SGKS自有专利技术(发明专利ZL2014 1 0169508.4、发明专利20141 0468 636.9),通过固定在实验室基础设施上的特征定位测量系统,把整个空间的测量数据统一在同一个世界坐标系下,最后完成超大目标的三维测量(包括扫描)。主要特点:

  • 实验室固定区域测量
  • 投入低、维护成本低
  • 可方便测量大型物体
  • 可完成三维测量和扫描

系统配置

  • PLock+测量系统主要构成:
  • PLock+(固定在实验室的基础设施上,如地坪、混凝土墙面或柱子等)。
  • SPACE Plus臂式测量机
  • 选配LDI高速三维激光扫描系统
  • 测量软件
  • 测量计算机、移动测量专用三脚车、电源、空调等

意义

非接触式扫描测量技术在逆向工程和形状误差检测中应用越来越广泛。基于大数据扫描的逆向工程具有速度快、误差小、建模和误差检测同步进行等特点,已经成为逆向工程的主要手段。而基于大量数据的形状误差检测(Form Inspection)因避免了传统测量方式的数据离散、测量速度慢的缺点,已经为很多跨国公司所采用。三维激光扫描测量技术具有精度高、数据品质高、采样速度快、密度大、对物体表面适应性好等特点,已经成为多特征产品的首选扫描测量方法。

PLock+超大尺寸三维激光扫描和测量系统为SGKS专利技术,在测量空间内,误差一般可以控制在0.1mm以下(与实验室环境和基础结构有点关系),单站误差在0.05mm以下。同等精度三维测量系统至少在400万元以上。

设备供应商
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